KXR-4100系列雙轉角晶片測角機
用于雙轉角石英晶片的角度測量。
主要特點
1. 采用低功率X射線源實現雙轉角晶片角度的精確測量。
2. 可根據用戶指定的轉角范圍進行產品定制。
3. 可根據用戶指定的晶片規格提供自動分類方案。
統計功能
—動態中心值指示
—動態標準偏差值指示
—測量數據列表顯示
—模擬分選統計
測量模式
放置一個晶片，自動整理，自動掃描測量。
技術參數
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KXR-4100 |
Φ：18°30′0″- 26°00′0″ |
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θ：33°15′0″- 34°30′0″ |
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KXR-4102 |
Φ：0°0′0″- 8°30′0″ |
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θ：34°15′0″- 35°45′0″ |
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外形尺寸(長寬高） |
725*715*1450mm |
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重量 |
198kg |
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屏幕 |
8英寸觸控屏 |
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輸入電源 |
220V±10%，50-60Hz，0.65A |
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輸入氣源 |
0.5MPa,20L/min潔凈氣源 |
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衍射方式 |
二級衍射 |
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光路調整方式 |
可控光軌調整裝置 |
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操作方式 |
人工置片，自動整理±X方向辨識測量和分類 |
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靜態重復性測試標準偏差 |
約3″（10次，不同角度晶片會有差異） |
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可測量晶片規格 |
X向：12-40mm,Z向：12-40mm |
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數據呈現 |
實時提供每片數據；數據以統計表 形式顯示在觸控屏上 |
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數據輸出 |
提供以太網傳輸接口、SD卡 |
